x-ray無損檢測設(shè)備在芯片檢測中的優(yōu)勢介紹

經(jīng)過十年發(fā)展，日聯(lián)科技已在無錫國家高新區(qū)自建4萬余平米的現(xiàn)代化工廠和研發(fā)制造中心，并在深圳、重慶兩地建有全資子公司（工廠），在北京、沈陽、天津、西安、鄭州、成都、武漢、青島、寧波、廣州、柳州、廈門、昆明、烏魯木齊等地設(shè)有辦事處。公司與美洲（美國、墨西哥、巴西、阿根廷）、歐洲（英國、德國、意大利、俄羅斯）、亞洲（東南亞、日韓、中東、土耳其）、澳大利亞、南非等全球多地代理商和分銷商合作，建立了銷售和服務網(wǎng)點。產(chǎn)品已出口到60余個國家及地區(qū)。

在性能和可靠性方面，偽造的電子組件的外觀與常規(guī)產(chǎn)品相差甚遠。特別是對于那些經(jīng)過翻新的偽造電子部件，在反復焊接和長期使用后，翻新過程中的某些損壞將大大降低性能和可靠性，并對產(chǎn)品性能和穩(wěn)定性產(chǎn)生很大的負面影響。

隨著技術(shù)的不斷進步，偽造的電子元件的外觀變得越來越逼真，肉眼無法分辨。也是在這個時候出現(xiàn)了X-RAY測試設(shè)備。與傳統(tǒng)的破壞性物理分析和故障分析相比，X-RAY的優(yōu)勢在于及時性，成本和專業(yè)性。它們具有明顯的優(yōu)勢。

從事相關(guān)行業(yè)X射線無損檢測的業(yè)內(nèi)人士指出：X射線檢測設(shè)備具有無損，使用方便，檢測精度高等一系列優(yōu)點。通過檢測設(shè)備，可以很好地檢測電子元件的內(nèi)部狀態(tài)，甚至可以檢測電子設(shè)備的角度，電流，電壓和圖像。 X射線管可以通過。為了基于對比度和亮度獲得相應的有效圖像信息，可以將其與常規(guī)原始產(chǎn)品進行很好的比較，從而可以輕松識別組件的真實性。

日聯(lián)科技的X射線檢測設(shè)備具有無損，易于使用和檢查精度高等一系列優(yōu)點。通過檢查設(shè)備，可以很好地檢查電子元件的內(nèi)部狀態(tài)，甚至可以通過X射線管的角度，電流，電壓，圖像對比度和亮度獲得相應的有效圖像信息。

現(xiàn)在，隨著各種智能終端設(shè)備的興起，人們對電子產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的要求不斷提高，對芯片質(zhì)量的要求也越來越高。在開發(fā)，生產(chǎn)和使用過程中，芯片故障是不可避免的。因此，芯片檢查和分析工作變得越來越重要。電子制造商已采用成熟的技術(shù)進行芯片測試。通過分析，它可以幫助設(shè)計人員發(fā)現(xiàn)芯片設(shè)計中的缺陷，工藝參數(shù)不匹配或設(shè)計和操作不當。這需要使用芯片測試設(shè)備X-RAY設(shè)備。