
全新上照式設計,微聚焦,搭載可編程自動位移平臺,無人值守、自動檢測多樣品,且更加智能化,采用自主研發的AI影像識別功能可完成智能尋點,自動匹配測試。對各超大異形件及微小密集型多點的測試更加高效、智能。

XTD-200是一款全自動型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀,全新上照式設計,微聚焦,搭載可編程自動位移平臺,無人值守、自動檢測多樣品,且更加智能化,采用自主研發的AI影像識別功能可完成智能尋點,自動匹配測試。對各超大異形件及微小密集型多點的測試更加高效、智能。

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