X熒光合金材料光譜分析儀

   這一儀器在國內技術基礎上，采用了“智能動態跟蹤"和“標準曲線的非線性回歸"等*技術，使傳統的儀的日常調整和標樣曲線的建立方法起了根本性的變化。現已大量地應用在冶金、鑄造、采礦、建筑、機械、電子、環保、衛生、化工、電力、技術監督等三班倒連續作業以及雜技上對固定的場合，如爐前、成品來料化驗等。

     X熒光合金材料光譜分析儀為X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
     X熒光合金材料光譜分析儀的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等關注的元素進行準確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

性能特點

超薄窗X光管
數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，準度更高，在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增大效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然

技術參數

產品型號：EDX 4500H
產品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：35%-70%
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

標準配置

超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數字多道技術
光路增強系統
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態顯示液晶屏
真空泵

應用領域

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測

微機有色金屬分析儀能檢測有色金屬，可分析銅合金硅、銅、鐵、鎂、鈦、錳、鉻、鎳、鋅、銅、錫、鉛等元素的分析，可儲存16條曲線，并可進行曲線修正，具有斷電數據保護等功能，結果數據直顯且可自動打印。

主要分類：

HNi65-5鎳黃銅具有單相的α組織，室溫下具有很好的塑性，也可在熱態下變形，但是對雜質鉛的含量必須嚴格控制，否制會嚴重惡化合金的熱加工性能。